LFA 457 MicroFlash

Прибор NETZSCH LFA 457 MicroFlash™ - наша последняя разработка в области метода лазерной вспышки. Этот настольный вариант позволяет проводить измерения в интервале температур от –100°C до 1100°C. Для того, чтобы перекрыть такой температурный интервал используются две печи. Печи могут быть легко заменены пользователем и имеют моторизованное подъемное устойство. Измерение температуры на обратной поверхности образца даже при –100°C стало возможным благодаря применению новой инновационной технологии инфракрасных сенсоров. Система может быть использована для исследования образцов с диаметром до 25.4 мм. Имеется встроенный кассетный держатель для одновременного измерения до 3-х образцов. Герметичная конструкция позволяет проводить испытания в заданной атмосфере. Вертикальное расположение держателя образца, печи и детектора облегчает смену образцов и в то же время позволяет установить оптимальное отношение сигнал/шум для детектора. Прибор LFA 457 отвечает требованиям таких стандартов как ASTME-1461, DINEN 821 или DIN 30905.

Программное обеспечение:

Контроль работы прибора NETZSCH LFA 457 MicroFlash™ и анализ измерений осуществляется программным обеспечением, уникальным в области коммерческого оборудования с лазерной вспышкой. Для анализа измеренных кривых температура-время могут быть выбраны более 15 различных моделей. Поэтому, почти все возможные применения, такие как металлы, полимеры, керамики, полупрозрачные материалы или многослойные системы могут быть оценены оптимальным образом. Для большинства моделей доступна коррекция, комбинирующая учет теплопотерь и ширину исходного импульса, что является решающим для точных вычислений. В настоящее время рассматриваются модели, основанные на методе нелинейной регрессии, использующие всю кривую измерения.

Некоторые модели анализа:

Стандартные процедуры анализа (Parker, Azumi, ClarkandTaylor, Cowan, …)

Улучшенная модель Cape-Lehman, рассматривающая одновременно фронтальные и радиальные потери тепла, а также эффекты конечного импульса.

Излучательная (радиационная) модель, учитывающая внутреннюю передачу тепла излучением.

Анализ 2-х и трехслойных систем с учетом потери тепла и поправка конечного импульса.

Применения:

Прибор LFA 457 MicroFlash™ может быть использован для широкого ряда материалов в твердой и жидкой фазе, от изоляционных и композитных материалов до высокопроводящих металлов.

Применения:

Прибор LFA 457 MicroFlash^™может быть использован для широкого ряда материалов в твердой и жидкой фазе, от изоляционных и композитных материалов до высокопроводящих металлов